專利名稱 一種基于角度的遠(yuǎn)場(chǎng)圖像畸變校正方法及系統(tǒng)
申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào) CN201810257901.7 專利權(quán)人(第一權(quán)利人) 長(zhǎng)春理工大學(xué)
申請(qǐng)日 2018-03-27 授權(quán)日 2020-04-17
專利類別 授權(quán)發(fā)明 戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)分類 雙五星
技術(shù)主題 圖像對(duì)|矩陣模型|失真校正|方位角|激光|參考圖像|垂直距離
應(yīng)用領(lǐng)域 圖像增強(qiáng)|圖像分析
意向價(jià)格 具體面議
專利概述 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于角度的遠(yuǎn)場(chǎng)圖像畸變校正方法及系統(tǒng),該方法包括獲取包括測(cè)量軌道與相機(jī)的垂直距離、目標(biāo)靶板與地面法線的夾角及轉(zhuǎn)臺(tái)初始方位角的測(cè)量參數(shù);獲取每幅遠(yuǎn)場(chǎng)圖像的轉(zhuǎn)臺(tái)方位角,選取轉(zhuǎn)臺(tái)方位角與轉(zhuǎn)臺(tái)初始方位角相同的遠(yuǎn)場(chǎng)圖像為參考圖象建立坐標(biāo)系,并確定參考圖像中每個(gè)合作目標(biāo)的初始位置坐標(biāo);計(jì)算每幅遠(yuǎn)場(chǎng)圖像的轉(zhuǎn)臺(tái)相對(duì)角度,根據(jù)初始位置坐標(biāo)及測(cè)量參數(shù)確定校正矩陣模型;將每幅遠(yuǎn)場(chǎng)圖像對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)臺(tái)相對(duì)角度輸入到校正矩陣模型內(nèi)實(shí)現(xiàn)對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)圖像的校正。因此,本發(fā)明提供的方法或者系統(tǒng)是以轉(zhuǎn)臺(tái)相對(duì)角度作為畸變參量確定校正矩陣模型,實(shí)現(xiàn)對(duì)多幅遠(yuǎn)場(chǎng)圖像進(jìn)行畸變校正,耗時(shí)短、計(jì)算簡(jiǎn)單,且滿足激光照射性能監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的要求。
圖片資料 一種基于角度的遠(yuǎn)場(chǎng)圖像畸變校正方法及系統(tǒng)
合作方式 具體面議
聯(lián)系人 戚梅宇 聯(lián)系電話 13074363281